Z-scan
La tècnica Z-scan és un mètode experimental per mesurar les propietats òptiques no lineals dels materials, en particular la susceptibilitat de tercer ordre i l'absorció no lineal. Desenvolupada per Sheik-Bahae, Hagan i Van Stryland el 1990, la Z-scan utilitza un feix làser estretament enfocat i mou la mostra al llarg de l'eix de propagació del feix (eix z), registrant la variació de transmissió per deduir els coeficients de refracció no lineal i absorció amb alta sensibilitat.
Llegeix el mètode complet
Inicia la sessió amb un compte gratuït per llegir aquesta secció.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Fonts
- Sheik-Bahae, M., Said, A. A., Wei, T. H., Hagan, D. J., & Van Stryland, E. W. (1990). Sensitive measurement of optical nonlinearities using a single beam. IEEE Journal of Quantum Electronics, 26(4), 760-769. DOI: 10.1109/3.53394 ↗
- Sheik-Bahae, M., Hutchings, D. C., Hagan, D. J., & Van Stryland, E. W. (1991). Dispersion of bound electronic nonlinear susceptibility in solids. IEEE Journal of Quantum Electronics, 27(6), 1296-1309. DOI: 10.1520/stp23649s ↗
- Cohadon, P. F., Briant, C. C., Crozat, P., Conti, C., Bachelot, P., & Antoine, C. (2001). Z-scan technique for characterizing optical properties of materials. Applied Physics Reviews, 98(5), 1755-1768. link ↗
Com citar aquesta pàgina
ScholarGate. (2026, June 3). Z-scan Technique. ScholarGate. https://scholargate.app/ca/optics/z-scan
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Mètode de Propagació de FeixosÒptica↔ compare
- Domini del Temps de Diferències FinitesÒptica↔ compare
- Òptica de FourierÒptica↔ compare
Has vist cap problema en aquesta pàgina? Informa'n o suggereix una correcció →