Espectroscòpia Fotoelectrònica de Raigs X
L'Espectroscòpia Fotoelectrònica de Raigs X (XPS), també coneguda com a Espectroscòpia Electrònica per a l'Anàlisi Química (ESCA), és una tècnica analítica sensible a la superfície que mesura les energies cinètiques dels fotoelectrons expulsats d'un material per raigs X d'alta energia. Desenvolupada per Kai Siegbahn el 1967, la XPS determina la composició elemental, els estats d'oxidació químics i els enllaços químics dins d'uns 10 nanòmetres d'una superfície. És indispensable en la ciència de materials per a la caracterització de superfícies, estudis de corrosió, anàlisi d'òxids i química d'interfícies.
Llegeix el mètode complet
Inicia la sessió amb un compte gratuït per llegir aquesta secció.
Mapa de mètodes
El veïnat de mètodes relacionats — seleccioneu un node per explorar-lo.
Fonts
- Siegbahn, K., Nordling, C., Fahlman, A., et al. (1967). ESCA: Atomic, Molecular and Solid State Structure Studied by Means of Electron Spectroscopy. Almqvist and Wiksells. link ↗
- Briggs, D., & Seah, M. P. (2003). Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy (2nd ed.). John Wiley & Sons. link ↗
- Moulder, J. F., Stickle, W. F., Sobol, P. E., & Bomben, K. D. (1992). Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy. Physical Electronics. link ↗
Com citar aquesta pàgina
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). ScholarGate. https://scholargate.app/ca/materials-science/x-ray-photoelectron-spectroscopy
Quin mètode?
Poseu aquest mètode al costat dels seus parents més pròxims i llegiu-los de costat a costat — la biblioteca disposa els llibres sobre la taula; la tria és vostra.
- Espectroscòpia de raigs X de dispersió d'energiaCiència de materials↔ compara
- Desconvolució de RamanCiència de materials↔ compara
- Difracció d'electrons d'àrea seleccionadaCiència de materials↔ compara
Citat per
Similar methods
Has vist cap problema en aquesta pàgina? Informa'n o suggereix una correcció →