ScholarGate
Trợ lý
Process / pipelineNonlinear

Kỹ thuật Z-scan

Kỹ thuật Z-scan là một phương pháp thực nghiệm để đo các tính chất quang phi tuyến của vật liệu, đặc biệt là độ nhạy bậc ba và hấp thụ phi tuyến. Được phát triển bởi Sheik-Bahae, Hagan và Van Stryland vào năm 1990, Z-scan sử dụng chùm tia laser hội tụ chặt và di chuyển mẫu dọc theo trục truyền sóng (trục z), ghi lại sự thay đổi truyền qua để suy ra hệ số khúc xạ phi tuyến và hấp thụ với độ nhạy cao.

Mở trong MethodMindSắp ra mắtApply, compare, get guidance
Tools & resources
Tải xuống bản trình chiếu
Learn & explore
VideoSắp ra mắt

Đọc toàn bộ phương pháp

Chỉ dành cho thành viên

Đăng nhập bằng tài khoản miễn phí để đọc phần này.

Đăng nhập

Bản đồ phương pháp

Lân cận của các phương pháp liên quan — chọn một nút để khám phá.

Nguồn tài liệu

  1. Sheik-Bahae, M., Said, A. A., Wei, T. H., Hagan, D. J., & Van Stryland, E. W. (1990). Sensitive measurement of optical nonlinearities using a single beam. IEEE Journal of Quantum Electronics, 26(4), 760-769. DOI: 10.1109/3.53394
  2. Sheik-Bahae, M., Hutchings, D. C., Hagan, D. J., & Van Stryland, E. W. (1991). Dispersion of bound electronic nonlinear susceptibility in solids. IEEE Journal of Quantum Electronics, 27(6), 1296-1309. DOI: 10.1520/stp23649s
  3. Cohadon, P. F., Briant, C. C., Crozat, P., Conti, C., Bachelot, P., & Antoine, C. (2001). Z-scan technique for characterizing optical properties of materials. Applied Physics Reviews, 98(5), 1755-1768. link

Cách trích dẫn trang này

ScholarGate. (2026, June 3). Z-scan Technique. ScholarGate. https://scholargate.app/vi/optics/z-scan

Phương pháp nào?

Đặt phương pháp này bên cạnh những phương pháp gần gũi nhất với nó và đọc chúng song song — thư viện bày sách lên bàn; lựa chọn là của bạn.

So sánh song song
ScholarGateZ-scan (Z-scan Technique). Truy cập ngày 2026-06-15 từ https://scholargate.app/vi/optics/z-scan · Bộ dữ liệu: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026