Phân tích vân giao thoa

Phân tích vân giao thoa là một phương pháp tính toán để trích xuất thông tin định lượng từ các mẫu vân giao thoa được ghi lại trong các hệ thống quang học. Bắt nguồn từ thí nghiệm khe đôi của Thomas Young năm 1801 và được chính thức hóa trong đo lường học thế kỷ 20, phương pháp này diễn giải các mẫu không gian của giao thoa tăng cường và triệt tiêu để đo đạc độ cao bề mặt, quang sai, phân bố chiết suất và các đặc tính quang học khác với độ chính xác cao.