Khai phá mẫu nổi bật

Khai phá mẫu nổi bật (EPM) là một kỹ thuật khai phá dữ liệu dựa trên sự tương phản, xác định các tập hợp mục có độ hỗ trợ tăng đáng kể — hoặc tăng vọt từ mức 0 — khi chuyển từ một tập dữ liệu (hoặc lớp) sang một tập dữ liệu khác. Được Dong và Li giới thiệu vào năm 1999, kỹ thuật này chủ yếu được sử dụng trong các tác vụ phân loại, phát hiện bất thường và phân tích xu hướng, nơi mục tiêu chính là khám phá các mẫu phân biệt giữa hai quần thể hoặc khoảng thời gian.