PANIC
PANIC (Panel Analysis of Non-stationarity in Idiosyncratic and Common Components) is a second-generation panel unit root test introduced by Bai and Ng (2004). It decomposes each panel series into common factors and idiosyncratic components, then tests for unit roots in each part separately, making it robust to cross-sectional dependence — a critical limitation of first-generation tests such as IPS or LLC.
Hồ sơ nguồn
Các trích dẫn được sao chép nguyên văn từ hồ sơ nguồn của phương pháp. Không có xác minh cấp độ yêu cầu nào được suy ra từ chúng.
Các yêu cầu được tuyển chọn
Các yêu cầu được lưu trữ trong sổ cái bằng chứng, mỗi yêu cầu có đánh giá riêng.
Chế độ xem này không tạo ra đánh giá yêu cầu khi sổ cái không có.
Các phương pháp liên quan
Được tạo từ biểu đồ phương pháp và hiển thị dưới dạng các mối quan hệ được đề xuất bởi máy — không có yêu cầu bằng chứng nào được suy ra.