ScholarGate
Асистент
Process / pipelineMeasurement

Аналіз інтерферограмних смуг

Аналіз інтерферограмних смуг — це обчислювальна методологія для вилучення кількісної інформації з інтерференційних смугових картин, записаних в оптичних системах. Заснований на експерименті з подвійною щілиною Томаса Юнга 1801 року та формалізований у метрології 20-го століття, цей підхід інтерпретує просторові патерни конструктивної та деструктивної інтерференції для високоточного вимірювання топографії поверхні, оптичних аберацій, розподілу показника заломлення та інших оптичних властивостей.

Відкрити у MethodMindНезабаромВідеоНезабаромDownload slides

Читати метод повністю

Лише для учасників

Увійдіть із безкоштовним обліковим записом, щоб прочитати цей розділ.

Увійти

Method map

The neighbourhood of related methods — select a node to explore.

Джерела

  1. Malacara, D. (Ed.). (2007). Optical Shop Testing (3rd ed.). John Wiley & Sons. link
  2. Huntley, J. M. (1989). Automatic fringe pattern analysis: a review. Optics & Lasers in Engineering, 11(2-3), 243-266. link
  3. Wyant, J. C. (1996). White light interferometry. Proceedings of the International Society for Optical Engineering, 2873, 98-107. link

Як цитувати цю сторінку

ScholarGate. (2026, June 3). Interferogram Fringe Analysis. ScholarGate. https://scholargate.app/uk/optics/interferogram-fringe-analysis

Which method?

Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.

Compare side by side

Згадується в

ScholarGateInterferogram Fringe Analysis (Interferogram Fringe Analysis). Отримано 2026-06-15 з https://scholargate.app/uk/optics/interferogram-fringe-analysis · Набір даних: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026