Scholar
Gate
Асистент
Усі галузі
▾
UK ▾
Про проєкт
Reference
Питання і дизайн
Вибірка і вимірювання
Аналіз
Причинність і докази
Звітування й етика
Головна
/
Автор
Elhorst, J. P.; Lee, L. F. & Yu, J.
Методи, пов'язані з цим автором.
1 метод
Просторовий аналіз
1
Global Spatial Panel Model
2003