Mjukvarupålitlighetsmodeller
Mjukvarupålitlighetsmodeller förutsäger beteendet hos felfrekvenser under testning och drift, och uppskattar när mjukvaran uppnår nödvändiga pålitlighetsmål. Dessa stokastiska modeller, introducerade av Goel och Okumoto (1979), fångar hur defekttäckningen minskar allt eftersom testningen fortskrider. Organisationer använder pålitlighetsmodeller för att prognostisera färdighet för releaser, uppskatta testningens varaktighet och validera kvalitetssäkrande åtgärder.
Läs hela metoden
Logga in med ett kostnadsfritt konto för att läsa avsnittet.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Källor
- Goel, A. L., & Okumoto, K. (1979). Time-dependent error-detection rate model for software reliability and other performance measures. IEEE Transactions on Reliability, 28(3), 206–211. DOI: 10.1109/TR.1979.5220566 ↗
- Musa, J. D., Iannino, A., & Okumoto, K. (1987). Software Reliability: Measurement, Prediction, Application. McGraw-Hill. link ↗
- Yamada, S., Ohera, H., & Narihisa, H. (1984). Software reliability growth with a Weibull test-effort: A model and application. IEEE Transactions on Reliability, 33(2), 117–123. link ↗
Så citerar du den här sidan
ScholarGate. (2026, June 3). Software Reliability Modeling and Growth Analysis. ScholarGate. https://scholargate.app/sv/software-engineering/software-reliability-model
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- KodtäckningsanalysProgramvaruteknik↔ compare
- Modell för defektprediktionProgramvaruteknik↔ compare
- EkvivalenspartitioneringstestningProgramvaruteknik↔ compare
- MjukvarukomplexitetsmåttProgramvaruteknik↔ compare
Hittade du ett fel på sidan? Rapportera eller föreslå en rättelse →