Scholar
Gate
Assistent
Alla fält
▾
SV ▾
Om oss
Reference
Fråga och design
Urval och mätning
Analys
Kausalitet och evidens
Rapportering och etik
Hem
/
Författare
Kapetanios, Shin, and Snell
Metoder som tillskrivs denna författare.
1 metod
Ekonometri
1
Nonlinear ADF Unit Root Test
2003