Spektroskopia fotoelektronike me rreze X
Spektroskopia fotoelektronike me rreze X (XPS), e njohur gjithashtu si Spektroskopia Elektronike për Analizë Kimike (ESCA), është një teknikë analitike sipërfaqësisht e ndjeshme që mat energjitë kinetike të fotoelektroneve të nxjerrë nga një material nga rreze X me energji të lartë. Zhvilluar nga Kai Siegbahn në 1967, XPS përcakton përbërjen elementare, gjendjet e oksidimit kimik dhe lidhjet kimike brenda rreth 10 nanometrave nga një sipërfaqe. Është e pazëvendësueshme në shkencën e materialeve për karakterizimin e sipërfaqes, studimet e korrozionit, analizën e oksideve dhe kiminë e ndërfaqeve.
Lexoni metodën e plotë
Hyni me një llogari falas për ta lexuar këtë seksion.
Harta e metodave
Lagjja e metodave të lidhura — zgjidhni një nyje për të eksploruar.
Burimet
- Siegbahn, K., Nordling, C., Fahlman, A., et al. (1967). ESCA: Atomic, Molecular and Solid State Structure Studied by Means of Electron Spectroscopy. Almqvist and Wiksells. link ↗
- Briggs, D., & Seah, M. P. (2003). Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy (2nd ed.). John Wiley & Sons. link ↗
- Moulder, J. F., Stickle, W. F., Sobol, P. E., & Bomben, K. D. (1992). Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy. Physical Electronics. link ↗
Si ta citoni këtë faqe
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). ScholarGate. https://scholargate.app/sq/materials-science/x-ray-photoelectron-spectroscopy
Cila metodë?
Vendoseni këtë metodë pranë të afërmeve të saj më të ngushta dhe lexojini krah për krah — biblioteka i shtron librat mbi tryezë; zgjedhja është e juaja.
- Spektroskopia e Rrezeve X me Shpërndarje EnergjieShkenca e materialeve↔ krahaso
- Dekomvolucioni RamanShkenca e materialeve↔ krahaso
- Difraksioni Elektronik me Zonë të SelektuarShkenca e materialeve↔ krahaso
Cituar nga
Similar methods
Vutë re një problem në këtë faqe? Raportojeni ose sugjeroni një korrigjim →