Extended X-ray Absorption Fine Structure
Gdy foton rentgenowski zostanie zaabsorbowany przez elektron wewnętrznej powłoki atomu, fala wychodząca fotoelektronu jest rozpraszana przez sąsiednie atomy. Te rozproszone fale interferują z falą wychodzącą, tworząc oscylacje (zmarszczki) w widmie współczynnika absorpcji promieniowania rentgenowskiego powyżej progu absorpcji. Częstotliwość i amplituda tych oscylacji zależą od odległości, liczb koordynacyjnych i typów sąsiednich atomów. Analizując oscylacje, uzyskuje się radialną funkcję rozkładu, pokazującą liczbę atomów na każdej odległości od atomu centralnego.
Przeczytaj pełny opis metody
Zaloguj się na bezpłatne konto, aby przeczytać tę sekcję.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Źródła
- Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. DOI: 10.1103/PhysRevLett.27.1204 ↗
- Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. DOI: 10.1103/PhysRevB.11.4836 ↗
Jak cytować tę stronę
ScholarGate. (2026, June 3). Extended X-ray Absorption Fine Structure. ScholarGate. https://scholargate.app/pl/spectroscopy/exafs
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
Compare side by side →Cytowana przez
Widzisz błąd na tej stronie? Zgłoś go lub zaproponuj poprawkę →