ScholarGate
Asystent
Process / pipelineNonlinear

Technika Z-scan

Technika Z-scan jest metodą eksperymentalną służącą do pomiaru nieliniowych właściwości optycznych materiałów, w szczególności podatności trzeciego rzędu i nieliniowego pochłaniania. Opracowana przez Sheik-Bahae, Hagana i Van Strylanda w 1990 roku, technika Z-scan wykorzystuje silnie skupioną wiązkę laserową i przesuwanie próbki wzdłuż osi propagacji wiązki (osi z), rejestrując zmiany transmisji w celu precyzyjnego określenia współczynników nieliniowego załamania i pochłaniania z dużą czułością.

Otwórz w MethodMindWkrótceWideoWkrótceDownload slides

Przeczytaj pełny opis metody

Tylko dla członków

Zaloguj się na bezpłatne konto, aby przeczytać tę sekcję.

Zaloguj się

Method map

The neighbourhood of related methods — select a node to explore.

Źródła

  1. Sheik-Bahae, M., Said, A. A., Wei, T. H., Hagan, D. J., & Van Stryland, E. W. (1990). Sensitive measurement of optical nonlinearities using a single beam. IEEE Journal of Quantum Electronics, 26(4), 760-769. DOI: 10.1109/3.53394
  2. Sheik-Bahae, M., Hutchings, D. C., Hagan, D. J., & Van Stryland, E. W. (1991). Dispersion of bound electronic nonlinear susceptibility in solids. IEEE Journal of Quantum Electronics, 27(6), 1296-1309. DOI: 10.1520/stp23649s
  3. Cohadon, P. F., Briant, C. C., Crozat, P., Conti, C., Bachelot, P., & Antoine, C. (2001). Z-scan technique for characterizing optical properties of materials. Applied Physics Reviews, 98(5), 1755-1768. link

Jak cytować tę stronę

ScholarGate. (2026, June 3). Z-scan Technique. ScholarGate. https://scholargate.app/pl/optics/z-scan

Which method?

Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.

Compare side by side
ScholarGateZ-scan (Z-scan Technique). Pobrano 2026-06-15 z https://scholargate.app/pl/optics/z-scan · Zbiór danych: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026