ScholarGate
Assistent
Process / pipelineInstrumental Analysis

CTD-profilering

Conductivity-Temperature-Depth (CTD) profilering is de primaire methode voor het meten van verticale profielen van zeeweigenschappen in de oceanografie. CTD-instrumenten, ontwikkeld door Neil Brown in 1977, zijn uitgerust met sensoren voor geleidbaarheid, temperatuur en druk (diepte), en worden doorgaans gemonteerd op waterbemonsteringsrozetten. CTD-profilering levert essentiële hydrografische gegevens die de structuur van watermassa's, stratificatie en circulatiepatronen karakteriseren.

Openen in MethodMindBinnenkortVideoBinnenkortDownload slides

Lees de volledige methode

Alleen voor leden

Log in met een gratis account om dit onderdeel te lezen.

Inloggen

Method map

The neighbourhood of related methods — select a node to explore.

Bronnen

  1. UNESCO/IOC. (1991). Processing of oceanographic station data. UNESCO Technical Papers in Marine Science, 60. link
  2. Roemmich, D., & Gilson, J. (2009). The 2004-2008 global hydrographic climatology. Oceanography, 22(2), 50-61. link

Deze pagina citeren

ScholarGate. (2026, June 3). Conductivity-Temperature-Depth Profiling. ScholarGate. https://scholargate.app/nl/oceanography/ctd-profiling

Which method?

Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.

Compare side by side

Geciteerd door

ScholarGateCTD Profiling (Conductivity-Temperature-Depth Profiling). Geraadpleegd op 2026-06-15 via https://scholargate.app/nl/oceanography/ctd-profiling · Gegevensset: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026