EXAFS
Extended X-ray Absorption Fine Structure (EXAFS) is a synchrotron-based X-ray spectroscopy technique that measures the local geometric and electronic structure around a specific atom in any material, crystal or amorphous. Discovered by Sayers, Stern, and Lytle in 1971, EXAFS reveals interatomic distances, coordination numbers, and disorder in the atomic environment by analyzing oscillations in the X-ray absorption spectrum above an absorption edge.
Bronrecord
Citaten letterlijk overgenomen uit het bronrecord van de methode. Hieruit wordt geen verificatie op claimniveau afgeleid.
- Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. · DOI 10.1103/PhysRevLett.27.1204
- Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. · DOI 10.1103/PhysRevB.11.4836
Gecureerde claims
Claims opgeslagen in het bewijsregister, elk met zijn eigen beoordeling.
Deze weergave verzint geen claimbeoordeling als het register er geen heeft.
Gerelateerde methoden
Gegenereerd uit de methodegraaf en getoond als machinaal voorgestelde relaties — er wordt geen bewijsclaim afgeleid.