Scholar
Gate
Assistent
Alle vakgebieden
▾
NL ▾
Over ons
Reference
Vraag & onderzoeksopzet
Steekproeftrekking & meting
Analyse
Causaliteit & bewijs
Rapportage & ethiek
Startpagina
/
Auteur
Nees Jan van Eck & Ludo Waltman (Leiden University)
Methoden die aan deze auteur worden toegeschreven.
1 methode
Scientometrie
1
VOSviewer-assisted science mapping
2010