Sample Entropy

Sample Entropy (SampEn) ialah ukuran tak linear bagi kerumitan dan keteraturan siri masa. Diperkenalkan oleh Richman dan Moorman pada tahun 2000 sebagai penambahbaikan ke atas Approximate Entropy (ApEn), ia mengukur kebarangkalian bahawa corak serupa sepanjang panjang tertentu dalam siri itu kekal serupa apabila dilanjutkan dengan satu mata data tambahan. Nilai SampEn yang lebih tinggi menunjukkan ketidakteraturan dan kerumitan yang lebih besar, manakala nilai yang lebih rendah menunjukkan lebih banyak keteraturan atau keserupaan kendiri.