Model Degradasi

Model degradasi memperkirakan masa pakai produk dengan melacak karakteristik kinerja yang terukur—seperti panjang retakan, keluaran cahaya, atau resistansi isolasi—dari waktu ke waktu daripada menunggu kegagalan total. Diperkenalkan dalam bentuk yang ketat oleh Meeker, Escobar, dan Lu (1998), model-model ini menyesuaikan jalur degradasi stokastik terhadap pengukuran berulang dan mendefinisikan kegagalan sebagai saat pertama kali karakteristik melintasi ambang batas yang telah ditentukan sebelumnya, memungkinkan inferensi masa pakai yang andal dari data uji yang dipercepat dengan sangat sedikit atau tanpa kegagalan yang teramati.