EXAFS
Extended X-ray Absorption Fine Structure (EXAFS) is a synchrotron-based X-ray spectroscopy technique that measures the local geometric and electronic structure around a specific atom in any material, crystal or amorphous. Discovered by Sayers, Stern, and Lytle in 1971, EXAFS reveals interatomic distances, coordination numbers, and disorder in the atomic environment by analyzing oscillations in the X-ray absorption spectrum above an absorption edge.
Catatan sumber
Kutipan disalin apa adanya dari catatan sumber metode. Tidak ada verifikasi tingkat klaim yang disimpulkan darinya.
- Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. · DOI 10.1103/PhysRevLett.27.1204
- Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. · DOI 10.1103/PhysRevB.11.4836
Klaim yang dikurasi
Klaim tersimpan dalam buku besar bukti, masing-masing dengan penilaiannya sendiri.
Tampilan ini tidak menciptakan penilaian klaim ketika buku besar tidak memilikinya.
Metode terkait
Dihasilkan dari grafik metode dan ditampilkan sebagai relasi yang disarankan mesin — tidak ada klaim bukti yang disimpulkan.