EXAFS
Extended X-ray Absorption Fine Structure (EXAFS) is a synchrotron-based X-ray spectroscopy technique that measures the local geometric and electronic structure around a specific atom in any material, crystal or amorphous. Discovered by Sayers, Stern, and Lytle in 1971, EXAFS reveals interatomic distances, coordination numbers, and disorder in the atomic environment by analyzing oscillations in the X-ray absorption spectrum above an absorption edge.
Forrásrekord
A hivatkozások szó szerint a módszer forrásrekordjából kerültek átvételre. Ezekből nem következtethető ki állítás-szintű ellenőrzés.
- Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. · DOI 10.1103/PhysRevLett.27.1204
- Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. · DOI 10.1103/PhysRevB.11.4836
Kurált állítások
Az állítások a bizonyíték-jegyzőkönyvben tárolódtak, mindegyik saját értékeléssel.
Ez a nézet nem hoz létre állítás-értékelést, ha a jegyzőkönyvben nincs.
Kapcsolódó módszerek
A módszergráfból generálva és gépi javaslatú kapcsolatokként jelenítve meg – nem következtethető ki bizonyíték-állítás.