XRD Rietveld Refinement
XRD Rietveld Refinement पाउडर विवर्तन डेटा से विस्तृत क्रिस्टल संरचना जानकारी निकालने की एक विधि है, जिसमें प्रेक्षित और परिकलित विवर्तन पैटर्न की तुलना न्यूनतम-वर्ग परिशोधन (least-squares refinement) के माध्यम से की जाती है। 1969 में ह्यूगो रिटवेल्ड द्वारा विकसित, यह तकनीक एकल क्रिस्टल की आवश्यकता के बिना, सीधे पाउडर डेटा से परमाणु स्थिति, अधिभोग (occupancies), तापीय पैरामीटर (thermal parameters), और प्रावस्था अंश (phase fractions) के निर्धारण को सक्षम बनाती है। यह सामग्री लक्षण वर्णन (materials characterization) में संरचनात्मक विश्लेषण, प्रावस्था पहचान (phase identification), और मात्रा निर्धारण (quantification) के लिए मानक दृष्टिकोण है।
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स्रोत
- Rietveld, H. M. (1969). A profile refinement method for nuclear and magnetic structures. Journal of Applied Crystallography, 2(2), 65-71. DOI: 10.1107/S0021889869006558 ↗
- Young, R. A. (Ed.). (1993). The Rietveld Method. Oxford University Press/International Union of Crystallography. link ↗
- Rodriguez-Carvajal, J. (2004). Recent advances in magnetic structure determination by neutron powder diffraction. Physica B, 192(1-2), 55-69. DOI: 10.1016/0921-4526(93)90108-I ↗
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ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Diffraction Rietveld Refinement. ScholarGate. https://scholargate.app/hi/materials-science/xrd-rietveld-refinement
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