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परिचय
Reference
प्रश्न एवं अभिकल्पना
प्रतिचयन एवं मापन
विश्लेषण
कार्य-कारण एवं प्रमाण
प्रतिवेदन एवं नैतिकता
मुखपृष्ठ
/
लेखक
Yeung, D.-Y. & Chang, H.; Davis, J. V. & Dhillon, I. S.
इस लेखक से संबद्ध विधियाँ।
1 विधि
मशीन अधिगम
1
Semi-supervised Metric Learning
2007