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परिचय
Reference
प्रश्न एवं अभिकल्पना
प्रतिचयन एवं मापन
विश्लेषण
कार्य-कारण एवं प्रमाण
प्रतिवेदन एवं नैतिकता
मुखपृष्ठ
/
लेखक
Multiple (Chen et al., Tian et al., Snell et al., and others)
इस लेखक से संबद्ध विधियाँ।
1 विधि
मशीन अधिगम
1
Regularized Few-Shot Learning
2016