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परिचय
Reference
प्रश्न एवं अभिकल्पना
प्रतिचयन एवं मापन
विश्लेषण
कार्य-कारण एवं प्रमाण
प्रतिवेदन एवं नैतिकता
मुखपृष्ठ
/
लेखक
Ben-Michael, Feller & Rothstein
इस लेखक से संबद्ध विधियाँ।
1 विधि
कारणात्मक अनुमान
1
Machine Learning-Augmented Synthetic Control Method
2021