רשומת ראיות למתודה
EXAFS
Extended X-ray Absorption Fine Structure (EXAFS) is a synchrotron-based X-ray spectroscopy technique that measures the local geometric and electronic structure around a specific atom in any material, crystal or amorphous. Discovered by Sayers, Stern, and Lytle in 1971, EXAFS reveals interatomic distances, coordination numbers, and disorder in the atomic environment by analyzing oscillations in the X-ray absorption spectrum above an absorption edge.
רשומת מקור
ציטוטים הועתקו מילה במילה מרשומת המקור של המתודה. לא מוסקת כל אימות ברמת הטענה מהם.
Extended X-ray Absorption Fine Structure
רשומת מתודה טקסונומית · process-pipeline / spectroscopy
- Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. · DOI 10.1103/PhysRevLett.27.1204
- Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. · DOI 10.1103/PhysRevB.11.4836
טענות מאוצרות
טענות שנשמרו ביומן הראיות, לכל אחת הערכה משלה.
עדיין אין טענות מאוצרות
תצוגה זו אינה ממציאה הערכת טענה כאשר ליומן אין אחת.
מתודות קשורות
נוצר מגרף המתודות ומוצג כיחסים שהוצעו על ידי המכונה — לא מוסקת כל טענת ראיה.