Interferogrammisuomujen analyysi
Interferogrammisuomujen analyysi on laskennallinen menetelmä kvantitatiivisen tiedon erottamiseksi optisten järjestelmien tallentamista interferenssisuomukuvioista. Thomas Youngin vuoden 1801 kaksoisrakokokeeseen juurtunut ja 20. vuosisadan metrologiassa formalisoitu lähestymistapa tulkitsee konstruktiivisen ja destruktiivisen interferenssin spatiaalisia kuvioita mittaamaan pintatopografiaa, optisia aberraatioita, taitekertoimen jakautumia ja muita optisia ominaisuuksia suurella tarkkuudella.
Lue koko menetelmä
Kirjaudu sisään maksuttomalla tilillä lukeaksesi tämän osion.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Lähteet
- Malacara, D. (Ed.). (2007). Optical Shop Testing (3rd ed.). John Wiley & Sons. link ↗
- Huntley, J. M. (1989). Automatic fringe pattern analysis: a review. Optics & Lasers in Engineering, 11(2-3), 243-266. link ↗
- Wyant, J. C. (1996). White light interferometry. Proceedings of the International Society for Optical Engineering, 2873, 98-107. link ↗
Näin viittaat tähän sivuun
ScholarGate. (2026, June 3). Interferogram Fringe Analysis. ScholarGate. https://scholargate.app/fi/optics/interferogram-fringe-analysis
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- ABCD-matriisiOptiikka↔ compare
- Fourier-optiikkaOptiikka↔ compare
- Mueller-Stokes-analyysiOptiikka↔ compare
Tähän viittaavat
Huomasitko virheen tällä sivulla? Ilmoita siitä tai ehdota korjausta →