ScholarGate
Avustaja
Process / pipelineInstrumental Analysis

CTD-profilointi

Konduktiivisuus-lämpötila-syvyys (CTD) -profilointi on ensisijainen menetelmä meriveden ominaisuuksien vertikaaliprofiilien mittaamiseen meritieteessä. Neil Brownin vuonna 1977 kehittämät CTD-laitteet on varustettu antureilla konduktiivisuutta, lämpötilaa ja painetta (syvyyttä) varten, ja ne on tyypillisesti asennettu vesinäytteenottorosetteihin. CTD-profilointi tuottaa olennaista hydrografista dataa, joka kuvaa vesimassojen rakennetta, kerrostuneisuutta ja virtauskuvioita.

Avaa sovelluksessa MethodMindTulossaVideoTulossaDownload slides

Lue koko menetelmä

Vain jäsenille

Kirjaudu sisään maksuttomalla tilillä lukeaksesi tämän osion.

Kirjaudu sisään

Method map

The neighbourhood of related methods — select a node to explore.

Lähteet

  1. UNESCO/IOC. (1991). Processing of oceanographic station data. UNESCO Technical Papers in Marine Science, 60. link
  2. Roemmich, D., & Gilson, J. (2009). The 2004-2008 global hydrographic climatology. Oceanography, 22(2), 50-61. link

Näin viittaat tähän sivuun

ScholarGate. (2026, June 3). Conductivity-Temperature-Depth Profiling. ScholarGate. https://scholargate.app/fi/oceanography/ctd-profiling

Which method?

Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.

Compare side by side

Tähän viittaavat

ScholarGateCTD Profiling (Conductivity-Temperature-Depth Profiling). Haettu 2026-06-15 osoitteesta https://scholargate.app/fi/oceanography/ctd-profiling · Aineisto: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026