Patent Analysis
Patent analysis, or patanalytics, mines the documents and metadata in patent databases to generate technological intelligence. Because patents are structured, dated, classified, and citation-linked records of inventive activity, analysing patent counts, citations, classification codes, applicants, and text reveals who is innovating where, in which technologies, how fields connect, and how the technological landscape is shifting—evidence that feeds competitive intelligence, R&D strategy, and foresight.
Lähdetietue
Sitaatit kopioitu sanatarkasti metodin lähdetietueesta. Niistä ei päätellä väitteiden tasoista varmennusta.
- Narin, F. (1994). Patent bibliometrics. Scientometrics, 30(1), 147-155. · DOI 10.1007/BF02017219
- Abbas, A., Zhang, L., & Khan, S. U. (2014). A literature review on the state-of-the-art in patent analysis. World Patent Information, 37, 3-13. · DOI 10.1016/j.wpi.2013.12.006
Kuratoituja väitteitä
Väitteet tallennettu todistusaineiston pääkirjaan, jokaisella oma arviointinsa.
Tämä näkymä ei keksi väitteen arviointia, jos pääkirjassa ei ole sitä.
Liittyvät metodit
Luotu metodigraafista ja näytetään koneen ehdottamina suhteina – väitteitä ei päätellä.