Scholar
Gate
Avustaja
Kaikki alat
▾
FI ▾
Tietoa
Reference
Kysymys ja asetelma
Otanta ja mittaaminen
Analyysi
Kausaalisuus ja näyttö
Raportointi ja etiikka
Etusivu
/
Tekijä
Elhorst, J. P.; Lee, L. F. & Yu, J.
Tämän tekijän nimiin luetut menetelmät.
1 menetelmä
Spatiaalianalyysi
1
Global Spatial Panel Model
2003