Interferogrammi äärejoonte analüüs
Interferogrammi äärejoonte analüüs on arvutuslik metoodika kvantitatiivse informatsiooni eraldamiseks optilistes süsteemides registreeritud interferentsi äärejoonte mustritest. See lähenemine, mis on juurdunud Thomas Youngi 1801. aasta kahe pilu eksperimendis ja formaliseeritud 20. sajandi metroloogias, tõlgendab konstruktiivse ja destruktiivse interferentsi ruumilisi mustreid, et mõõta suure täpsusega pinna topograafiat, optilisi aberratsioone, murdumisnäitaja jaotusi ja muid optilisi omadusi.
Loe meetodi täielikku kirjeldust
Selle osa lugemiseks logi sisse tasuta kontoga.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Allikad
- Malacara, D. (Ed.). (2007). Optical Shop Testing (3rd ed.). John Wiley & Sons. link ↗
- Huntley, J. M. (1989). Automatic fringe pattern analysis: a review. Optics & Lasers in Engineering, 11(2-3), 243-266. link ↗
- Wyant, J. C. (1996). White light interferometry. Proceedings of the International Society for Optical Engineering, 2873, 98-107. link ↗
Kuidas sellele lehele viidata
ScholarGate. (2026, June 3). Interferogram Fringe Analysis. ScholarGate. https://scholargate.app/et/optics/interferogram-fringe-analysis
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
Compare side by side →Sellele viitavad
Märkasid sellel lehel viga? Teata sellest või paku parandust →