Meetodi tõendite kirje
SIBTEST
SIBTEST (Simultaneous Item Bias Test) is a non-parametric method for detecting differential item functioning (DIF) and differential test functioning (DTF) developed by Shealy and Stout (1993). Unlike parametric approaches, SIBTEST does not assume a particular item response model and directly tests whether groups differ in their probability of correct responses at equal levels of overall ability.
Allikakirje
Tsiteeringud kopeeritud meetodi allikakirjest sõna-sõnalt. Nendest ei saa järeldada väidete tasemel kinnitust.
SIBTEST: Simultaneous Item Bias Test
Taksonoomiline meetodikirje · latent-structure / psychometrics
- Shealy, R., & Stout, W. F. (1993). A model-based standardization approach that separates true bias/DIF from group differences and detects test bias/DTF. Psychometrika, 58(2), 159-194. · DOI 10.1007/BF02294572
- Chang, H. H., Mazzeo, J., & Roussos, L. (1996). Detecting DIF for polytomously scored items: An adaptation of the SIBTEST procedure. Journal of Educational Measurement, 33(3), 333-353. · DOI 10.1111/j.1745-3984.1996.tb00496.x
- Stout, W. F. (1987). A nonparametric approach for assessing latent trait unidimensionality. Psychometrika, 52(4), 589-617. · DOI 10.1007/BF02294821
Kureeritud väited
Väited on salvestatud tõendite registrisse, igal oma hinnanguga.
Kureeritud väiteid veel pole
See vaade ei loo väite hinnangut, kui registris seda pole.
Seotud meetodid
Genereeritud meetodigraafist ja kuvatud masina soovitatud seostena – väiteid ei järeldata.