Interferogram Fringe Analysis
Interferogram fringe analysis is a computational methodology for extracting quantitative information from interference fringe patterns recorded in optical systems. Rooted in Thomas Young's 1801 double-slit experiment and formalized in 20th-century metrology, this approach interprets the spatial patterns of constructive and destructive interference to measure surface topography, optical aberrations, refractive-index distributions, and other optical properties with high precision.
Allikakirje
Tsiteeringud kopeeritud meetodi allikakirjest sõna-sõnalt. Nendest ei saa järeldada väidete tasemel kinnitust.
- Malacara, D. (Ed.). (2007). Optical Shop Testing (3rd ed.). John Wiley & Sons. · URL
- Huntley, J. M. (1989). Automatic fringe pattern analysis: a review. Optics & Lasers in Engineering, 11(2-3), 243-266. · URL
- Wyant, J. C. (1996). White light interferometry. Proceedings of the International Society for Optical Engineering, 2873, 98-107. · URL
Kureeritud väited
Väited on salvestatud tõendite registrisse, igal oma hinnanguga.
See vaade ei loo väite hinnangut, kui registris seda pole.
Seotud meetodid
Genereeritud meetodigraafist ja kuvatud masina soovitatud seostena – väiteid ei järeldata.