Scholar
Gate
Assistent
Kõik valdkonnad
▾
ET ▾
Meist
Küsimus ja kavand
Valim ja mõõtmine
Analüüs
Põhjuslikkus ja tõendus
Aruandlus ja eetika
Avaleht
/
Autor
Meeker, Escobar & Lu
Sellele autorile omistatud meetodid.
1 meetod
Reliaablus
1
Degradation Models
1998