Scholar
Gate
Assistent
Kõik valdkonnad
▾
ET ▾
Meist
Reference
Küsimus ja kavand
Valim ja mõõtmine
Analüüs
Põhjuslikkus ja tõendus
Aruandlus ja eetika
Avaleht
/
Autor
Kai Siegbahn
Sellele autorile omistatud meetodid.
1 meetod
Materjaliteadus
1
X-ray Photoelectron Spectroscopy
1967