Scholar
Gate
Assistent
Kõik valdkonnad
▾
ET ▾
Meist
Küsimus ja kavand
Valim ja mõõtmine
Analüüs
Põhjuslikkus ja tõendus
Aruandlus ja eetika
Avaleht
/
Autor
Jong-Sen Lee & Eric Pottier
Sellele autorile omistatud meetodid.
1 meetod
Kaugseire
1
SAR Image Analysis
2009