Scholar
Gate
Assistent
Kõik valdkonnad
▾
ET ▾
Meist
Reference
Küsimus ja kavand
Valim ja mõõtmine
Analüüs
Põhjuslikkus ja tõendus
Aruandlus ja eetika
Avaleht
/
Autor
Elhorst, J. P.; Lee, L. F. & Yu, J.
Sellele autorile omistatud meetodid.
1 meetod
Ruumianalüüs
1
Global Spatial Panel Model
2003