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Process / pipelineNonlinear

Z-scan

La técnica Z-scan es un método experimental para medir propiedades ópticas no lineales de materiales, particularmente la susceptibilidad de tercer orden y la absorción no lineal. Desarrollado por Sheik-Bahae, Hagan y Van Stryland en 1990, el Z-scan utiliza un haz láser fuertemente enfocado y mueve la muestra a lo largo del eje de propagación del haz (eje z), registrando la variación de transmisión para deducir coeficientes de refracción y absorción no lineales con alta sensibilidad.

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Fuentes

  1. Sheik-Bahae, M., Said, A. A., Wei, T. H., Hagan, D. J., & Van Stryland, E. W. (1990). Sensitive measurement of optical nonlinearities using a single beam. IEEE Journal of Quantum Electronics, 26(4), 760-769. DOI: 10.1109/3.53394
  2. Sheik-Bahae, M., Hutchings, D. C., Hagan, D. J., & Van Stryland, E. W. (1991). Dispersion of bound electronic nonlinear susceptibility in solids. IEEE Journal of Quantum Electronics, 27(6), 1296-1309. DOI: 10.1520/stp23649s
  3. Cohadon, P. F., Briant, C. C., Crozat, P., Conti, C., Bachelot, P., & Antoine, C. (2001). Z-scan technique for characterizing optical properties of materials. Applied Physics Reviews, 98(5), 1755-1768. link

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ScholarGate. (2026, June 3). Z-scan Technique. ScholarGate. https://scholargate.app/es/optics/z-scan

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ScholarGateZ-scan (Z-scan Technique). Recuperado el 2026-06-15 de https://scholargate.app/es/optics/z-scan · Conjunto de datos: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026