ScholarGate
Assistent
Process / pipelineMeasurement

Interferogram Fringe Analysis

Interferogram fringe analysis er en beregningsmetodologi til at udtrække kvantitativ information fra interferensfrynsemønstre optaget i optiske systemer. Metoden, der har rødder i Thomas Youngs dobbeltspalteeksperiment fra 1801 og blev formaliseret i 20. århundredes metrologi, fortolker de rumlige mønstre af konstruktiv og destruktiv interferens til præcist at måle overfladetopografi, optiske aberrationer, brydningsindeksfordelinger og andre optiske egenskaber.

Åbn i MethodMindSnartVideoSnartDownload slides

Læs hele metoden

Kun for medlemmer

Log ind med en gratis konto for at læse dette afsnit.

Log ind

Method map

The neighbourhood of related methods — select a node to explore.

Kilder

  1. Malacara, D. (Ed.). (2007). Optical Shop Testing (3rd ed.). John Wiley & Sons. link
  2. Huntley, J. M. (1989). Automatic fringe pattern analysis: a review. Optics & Lasers in Engineering, 11(2-3), 243-266. link
  3. Wyant, J. C. (1996). White light interferometry. Proceedings of the International Society for Optical Engineering, 2873, 98-107. link

Sådan citerer du denne side

ScholarGate. (2026, June 3). Interferogram Fringe Analysis. ScholarGate. https://scholargate.app/da/optics/interferogram-fringe-analysis

Which method?

Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.

Compare side by side

Refereret af

ScholarGateInterferogram Fringe Analysis (Interferogram Fringe Analysis). Hentet 2026-06-15 fra https://scholargate.app/da/optics/interferogram-fringe-analysis · Datasæt: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026