Extended X-ray Absorption Fine Structure
Když rentgenový foton absorbuje vnitřní elektron atomu, odchozí vlna fotoelektronu je rozptylována sousedními atomy. Tyto rozptýlené vlny interferují s odchozí vlnou a vytvářejí oscilace (vlnky) v koeficientu absorpce rentgenového záření nad absorpčním okrajem. Frekvence a amplituda těchto oscilací závisí na vzdálenostech, koordinačních číslech a typech sousedních atomů. Analýzou oscilací se extrahuje radiální distribuční funkce ukazující, kolik atomů je v každé vzdálenosti od centrálního atomu.
Přečíst celou metodu
Pro přečtení této sekce se přihlaste s bezplatným účtem.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Zdroje
- Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. DOI: 10.1103/PhysRevLett.27.1204 ↗
- Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. DOI: 10.1103/PhysRevB.11.4836 ↗
Jak citovat tuto stránku
ScholarGate. (2026, June 3). Extended X-ray Absorption Fine Structure. ScholarGate. https://scholargate.app/cs/spectroscopy/exafs
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
Compare side by side →Odkazuje sem
Našli jste na této stránce chybu? Nahlaste ji nebo navrhněte opravu →