Rietveldova rafinace XRD
Rietveldova rafinace XRD je metoda pro získávání podrobných informací o krystalové struktuře z dat práškové difrakce porovnáním pozorovaných a vypočtených difrakčních obrazců pomocí rafinace metodou nejmenších čtverců. Tato technika, vyvinutá Hugem Rietveldem v roce 1969, umožňuje stanovení atomových pozic, obsazeností, tepelných parametrů a podílů fází přímo z práškových dat bez nutnosti použití monokrystalů. Je to standardní přístup v charakterizaci materiálů pro strukturní analýzu, identifikaci fází a kvantifikaci.
Přečíst celou metodu
Pro přečtení této sekce se přihlaste s bezplatným účtem.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Zdroje
- Rietveld, H. M. (1969). A profile refinement method for nuclear and magnetic structures. Journal of Applied Crystallography, 2(2), 65-71. DOI: 10.1107/S0021889869006558 ↗
- Young, R. A. (Ed.). (1993). The Rietveld Method. Oxford University Press/International Union of Crystallography. link ↗
- Rodriguez-Carvajal, J. (2004). Recent advances in magnetic structure determination by neutron powder diffraction. Physica B, 192(1-2), 55-69. DOI: 10.1016/0921-4526(93)90108-I ↗
Jak citovat tuto stránku
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Diffraction Rietveld Refinement. ScholarGate. https://scholargate.app/cs/materials-science/xrd-rietveld-refinement
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- CALPHADMateriálové vědy↔ compare
- Selektivní elektronová difrakce v oblastiMateriálové vědy↔ compare
- Röntgenová fotoelektronová spektroskopieMateriálové vědy↔ compare
Odkazuje sem
Našli jste na této stránce chybu? Nahlaste ji nebo navrhněte opravu →