Atomic Force Microscopy
Atomic Force Microscopy (AFM) হল একটি স্ক্যানিং প্রোব কৌশল যা তীক্ষ্ণ ক্যান্টিলিভার টিপ এবং নমুনার পৃষ্ঠের মধ্যে মিথস্ক্রিয়া পর্যবেক্ষণ করে ন্যানোস্কেল পৃষ্ঠের টপোগ্রাফি এবং যান্ত্রিক বৈশিষ্ট্য পরিমাপ করে। স্ক্যানিং টানেলিং মাইক্রোস্কোপির একটি সম্প্রসারণ হিসাবে ১৯৮৬ সালে Gerd Binnig দ্বারা উদ্ভাবিত, AFM-এর জন্য বৈদ্যুতিক পরিবাহিতা বা ভ্যাকুয়াম অপারেশনের প্রয়োজন হয় না, যা এটিকে কার্যত যেকোনো উপাদানের জন্য প্রযোজ্য করে তোলে। এটি ন্যানোমিটারের কাছাকাছি পার্শ্বীয় রেজোলিউশনের সাথে সাব-ন্যানোমিটার উল্লম্ব রেজোলিউশন সহ তিন-মাত্রিক টপোগ্রাফিক মানচিত্র সরবরাহ করে, একই সাথে যান্ত্রিক, বৈদ্যুতিক এবং রাসায়নিক বৈশিষ্ট্যগুলির পরিমাপও করে।
পুরো পদ্ধতিটি পড়ুন
এই অংশটি পড়তে বিনামূল্যের অ্যাকাউন্ট দিয়ে সাইন ইন করুন।
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
উৎস
- Binnig, G., Quate, C. F., & Gerber, C. (1986). Atomic force microscope. Physical Review Letters, 56(9), 930-933. DOI: 10.1103/PhysRevLett.56.930 ↗
- Eaton, P., & West, P. (2005). Atomic Force Microscopy. Oxford University Press. link ↗
- Butt, H. J., Cappella, B., & Kappl, M. (2005). Force measurements with the atomic force microscope: Technique, interpretation and applications. Surface Science Reports, 59(1-6), 1-152. DOI: 10.1016/j.surfrep.2005.08.003 ↗
এই পৃষ্ঠা কীভাবে উদ্ধৃত করবেন
ScholarGate. (2026, June 3). Atomic Force Microscopy (AFM). ScholarGate. https://scholargate.app/bn/materials-science/atomic-force-microscopy
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- শক্তি-বিচ্ছুরণকারী এক্স-রে স্পেকট্রোস্কোপিউপাদান বিজ্ঞান↔ compare
- ন্যানোইন্ডেন্টেশনউপাদান বিজ্ঞান↔ compare
- নির্বাচিত এলাকা ইলেকট্রন ডিফ্র্যাকশনউপাদান বিজ্ঞান↔ compare
যেখানে উদ্ধৃত
এই পৃষ্ঠায় কোনো ত্রুটি চোখে পড়েছে? জানান বা সংশোধনের প্রস্তাব দিন →