Sensitivity Analysis with Process Capability Analysis
Sensitivity analysis with process capability analysis is a quantitative engineering method that combines the measurement of process performance — via capability indices such as Cp and Cpk — with systematic variation of input factors to identify which factors most strongly influence whether a process meets its specification limits. It is widely used in Six Sigma projects, manufacturing quality improvement, and Design of Experiments contexts to prioritize where corrective action will yield the greatest gain in process capability.
উৎস রেকর্ড
পদ্ধতির উৎস রেকর্ড থেকে উদ্ধৃতিগুলি হুবহু অনুলিপি করা হয়েছে। এগুলি থেকে কোনও দাবি-স্তরের যাচাইকরণ অনুমান করা হয় না।
- Montgomery, D. C. (2009). Introduction to Statistical Quality Control (6th ed.). Wiley. · ISBN 978-0470169926
- Saltelli, A., Ratto, M., Andres, T., Campolongo, F., Cariboni, J., Gatelli, D., Saisana, M., & Tarantola, S. (2008). Global Sensitivity Analysis: The Primer. Wiley. · ISBN 978-0470059975
কিউরেটেড দাবি
প্রমাণ লেজারে দাবিগুলি সংরক্ষিত আছে, প্রতিটির নিজস্ব মূল্যায়ন সহ।
প্রমাণ লেজারে কিছু না থাকলে এই ভিউ কোনও দাবি মূল্যায়ন তৈরি করে না।
সম্পর্কিত পদ্ধতি
পদ্ধতি গ্রাফ থেকে তৈরি এবং মেশিন-প্রস্তাবিত সম্পর্ক হিসাবে দেখানো হয়েছে — কোনও প্রমাণ দাবি অনুমান করা হয় না।