Scholar
Gate
Асистент
Всички области
▾
BG ▾
За нас
Reference
Въпрос и дизайн
Извадка и измерване
Анализ
Причинност и доказателства
Докладване и етика
Начало
/
Автор
Elhorst, J. P.; Lee, L. F. & Yu, J.
Методи, свързвани с този автор.
1 метод
Пространствен анализ
1
Global Spatial Panel Model
2003