Z-scan
The Z-scan technique is an experimental method for measuring nonlinear optical properties of materials, particularly third-order susceptibility and nonlinear absorption. Developed by Sheik-Bahae, Hagan, and Van Stryland in 1990, Z-scan uses a tightly focused laser beam and moves the sample along the beam propagation axis (z-axis), recording transmission variation to deduce nonlinear refraction and absorption coefficients with high sensitivity.
Registro de origem
Citações copiadas literalmente do registro de origem do método. Nenhuma verificação em nível de alegação é inferida delas.
- Sheik-Bahae, M., Said, A. A., Wei, T. H., Hagan, D. J., & Van Stryland, E. W. (1990). Sensitive measurement of optical nonlinearities using a single beam. IEEE Journal of Quantum Electronics, 26(4), 760-769. · DOI 10.1109/3.53394
- Sheik-Bahae, M., Hutchings, D. C., Hagan, D. J., & Van Stryland, E. W. (1991). Dispersion of bound electronic nonlinear susceptibility in solids. IEEE Journal of Quantum Electronics, 27(6), 1296-1309. · DOI 10.1520/stp23649s
- Cohadon, P. F., Briant, C. C., Crozat, P., Conti, C., Bachelot, P., & Antoine, C. (2001). Z-scan technique for characterizing optical properties of materials. Applied Physics Reviews, 98(5), 1755-1768. · URL
Alegações curadas
Alegações persistidas no livro-razão de evidências, cada uma com sua própria avaliação.
Esta visualização não inventa uma avaliação de alegação quando o livro-razão não a possui.
Métodos relacionados
Gerado a partir do grafo de métodos e mostrado como relações sugeridas por máquina — nenhuma alegação de evidência é inferida.