Atomic Force Microscopy
Atomic Force Microscopy (AFM) is a scanning probe technique that measures nanoscale surface topography and mechanical properties by monitoring interactions between a sharp cantilever tip and a sample surface. Invented by Gerd Binnig in 1986 as an extension of scanning tunneling microscopy, AFM requires neither electrical conductivity nor vacuum operation, making it applicable to virtually any material. It provides three-dimensional topographic maps with sub-nanometer vertical resolution and lateral resolution approaching nanometers, along with simultaneous measurements of mechanical, electrical, and chemical properties.
Avota reģistrs
Atsauces kopētas tieši no metodes avota reģistra. Tās nenozīmē nekādu apgalvojumu līmeņa verifikāciju.
- Binnig, G., Quate, C. F., & Gerber, C. (1986). Atomic force microscope. Physical Review Letters, 56(9), 930-933. · DOI 10.1103/PhysRevLett.56.930
- Eaton, P., & West, P. (2005). Atomic Force Microscopy. Oxford University Press. · URL
- Butt, H. J., Cappella, B., & Kappl, M. (2005). Force measurements with the atomic force microscope: Technique, interpretation and applications. Surface Science Reports, 59(1-6), 1-152. · DOI 10.1016/j.surfrep.2005.08.003
Kurēti apgalvojumi
Apgalvojumi saglabāti pierādījumu reģistrā, katram ar savu novērtējumu.
Šis skatījums neizgudro apgalvojumu novērtējumu, ja reģistrā tā nav.
Saistītās metodes
Ģenerēts no metodes grafika un parādīts kā mašīnas ieteiktas attiecības — netiek izvirzīts neviens pierādījumu apgalvojums.