X-Ray Fluorescence Sourcing
X-ray fluorescence (XRF) sourcing identifies where an artifact's raw material came from by measuring its elemental composition. When a sample is irradiated with high-energy X-rays, each element emits secondary X-rays at characteristic energies, and the intensities of these emissions reveal how much of each element is present. Because volcanic glass, clays, and ores from different geological sources carry distinct trace-element signatures, comparing an artifact's composition to a library of source samples can assign it to its origin. As the geoarchaeology volume edited by M. Steven Shackley documents, XRF — including rapid, non-destructive portable instruments (pXRF) — has become a workhorse for sourcing obsidian, and is also applied to ceramics, metals, and other materials. The resulting provenance data drive reconstructions of procurement and exchange.
स्रोत रिकॉर्ड
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- Shackley, M. S. (Ed.). (2011). X-Ray Fluorescence Spectrometry (XRF) in Geoarchaeology. Springer. · DOI 10.1007/978-1-4419-6886-9
- Renfrew, C., & Bahn, P. (2016). Archaeology: Theories, Methods, and Practice (7th ed.). Thames & Hudson. · ISBN 9780500292105
क्यूरेटेड दावे
साक्ष्य लेज़र में दावे बने हुए हैं, प्रत्येक का अपना मूल्यांकन है।
जब लेज़र में कोई दावा नहीं होता है तो यह दृश्य दावा मूल्यांकन का आविष्कार नहीं करता है।
संबंधित विधियाँ
विधि ग्राफ़ से उत्पन्न और मशीन-अनुशंसित संबंध के रूप में दिखाए गए हैं — किसी भी साक्ष्य दावे का अनुमान नहीं लगाया गया है।