Z-scan
The Z-scan technique is an experimental method for measuring nonlinear optical properties of materials, particularly third-order susceptibility and nonlinear absorption. Developed by Sheik-Bahae, Hagan, and Van Stryland in 1990, Z-scan uses a tightly focused laser beam and moves the sample along the beam propagation axis (z-axis), recording transmission variation to deduce nonlinear refraction and absorption coefficients with high sensitivity.
Dossier source
Citations copiées telles quelles du dossier source de la méthode. Aucune vérification au niveau de la revendication n'en est déduite.
- Sheik-Bahae, M., Said, A. A., Wei, T. H., Hagan, D. J., & Van Stryland, E. W. (1990). Sensitive measurement of optical nonlinearities using a single beam. IEEE Journal of Quantum Electronics, 26(4), 760-769. · DOI 10.1109/3.53394
- Sheik-Bahae, M., Hutchings, D. C., Hagan, D. J., & Van Stryland, E. W. (1991). Dispersion of bound electronic nonlinear susceptibility in solids. IEEE Journal of Quantum Electronics, 27(6), 1296-1309. · DOI 10.1520/stp23649s
- Cohadon, P. F., Briant, C. C., Crozat, P., Conti, C., Bachelot, P., & Antoine, C. (2001). Z-scan technique for characterizing optical properties of materials. Applied Physics Reviews, 98(5), 1755-1768. · URL
Revendications organisées
Revendications enregistrées dans le registre de preuves, chacune avec sa propre évaluation.
Cette vue n'invente pas d'évaluation de revendication lorsque le registre n'en contient aucune.
Méthodes apparentées
Généré à partir du graphe de méthodes et présenté comme des relations suggérées par la machine — aucune revendication de preuve n'est déduite.