Patent Analysis
Patent analysis, or patanalytics, mines the documents and metadata in patent databases to generate technological intelligence. Because patents are structured, dated, classified, and citation-linked records of inventive activity, analysing patent counts, citations, classification codes, applicants, and text reveals who is innovating where, in which technologies, how fields connect, and how the technological landscape is shifting—evidence that feeds competitive intelligence, R&D strategy, and foresight.
Allikakirje
Tsiteeringud kopeeritud meetodi allikakirjest sõna-sõnalt. Nendest ei saa järeldada väidete tasemel kinnitust.
- Narin, F. (1994). Patent bibliometrics. Scientometrics, 30(1), 147-155. · DOI 10.1007/BF02017219
- Abbas, A., Zhang, L., & Khan, S. U. (2014). A literature review on the state-of-the-art in patent analysis. World Patent Information, 37, 3-13. · DOI 10.1016/j.wpi.2013.12.006
Kureeritud väited
Väited on salvestatud tõendite registrisse, igal oma hinnanguga.
See vaade ei loo väite hinnangut, kui registris seda pole.
Seotud meetodid
Genereeritud meetodigraafist ja kuvatud masina soovitatud seostena – väiteid ei järeldata.