Z-scan
The Z-scan technique is an experimental method for measuring nonlinear optical properties of materials, particularly third-order susceptibility and nonlinear absorption. Developed by Sheik-Bahae, Hagan, and Van Stryland in 1990, Z-scan uses a tightly focused laser beam and moves the sample along the beam propagation axis (z-axis), recording transmission variation to deduce nonlinear refraction and absorption coefficients with high sensitivity.
Εγγραφή πηγής
Οι παραπομπές αντιγράφονται αυτούσιες από την εγγραφή πηγής της μεθόδου. Δεν υπονοείται επαλήθευση σε επίπεδο ισχυρισμού από αυτές.
- Sheik-Bahae, M., Said, A. A., Wei, T. H., Hagan, D. J., & Van Stryland, E. W. (1990). Sensitive measurement of optical nonlinearities using a single beam. IEEE Journal of Quantum Electronics, 26(4), 760-769. · DOI 10.1109/3.53394
- Sheik-Bahae, M., Hutchings, D. C., Hagan, D. J., & Van Stryland, E. W. (1991). Dispersion of bound electronic nonlinear susceptibility in solids. IEEE Journal of Quantum Electronics, 27(6), 1296-1309. · DOI 10.1520/stp23649s
- Cohadon, P. F., Briant, C. C., Crozat, P., Conti, C., Bachelot, P., & Antoine, C. (2001). Z-scan technique for characterizing optical properties of materials. Applied Physics Reviews, 98(5), 1755-1768. · URL
Επιμελημένοι ισχυρισμοί
Οι ισχυρισμοί έχουν αποθηκευτεί στο καθολικό τεκμηρίων, καθένας με τη δική του αξιολόγηση.
Αυτή η προβολή δεν επινοεί αξιολόγηση ισχυρισμού όταν το καθολικό δεν έχει κανέναν.
Σχετικές μέθοδοι
Δημιουργούνται από τον γράφο μεθόδων και εμφανίζονται ως προτεινόμενες από μηχανή σχέσεις — δεν υπονοείται ισχυρισμός τεκμηρίου.