X-Ray Fluorescence Sourcing
X-ray fluorescence (XRF) sourcing identifies where an artifact's raw material came from by measuring its elemental composition. When a sample is irradiated with high-energy X-rays, each element emits secondary X-rays at characteristic energies, and the intensities of these emissions reveal how much of each element is present. Because volcanic glass, clays, and ores from different geological sources carry distinct trace-element signatures, comparing an artifact's composition to a library of source samples can assign it to its origin. As the geoarchaeology volume edited by M. Steven Shackley documents, XRF — including rapid, non-destructive portable instruments (pXRF) — has become a workhorse for sourcing obsidian, and is also applied to ceramics, metals, and other materials. The resulting provenance data drive reconstructions of procurement and exchange.
Εγγραφή πηγής
Οι παραπομπές αντιγράφονται αυτούσιες από την εγγραφή πηγής της μεθόδου. Δεν υπονοείται επαλήθευση σε επίπεδο ισχυρισμού από αυτές.
- Shackley, M. S. (Ed.). (2011). X-Ray Fluorescence Spectrometry (XRF) in Geoarchaeology. Springer. · DOI 10.1007/978-1-4419-6886-9
- Renfrew, C., & Bahn, P. (2016). Archaeology: Theories, Methods, and Practice (7th ed.). Thames & Hudson. · ISBN 9780500292105
Επιμελημένοι ισχυρισμοί
Οι ισχυρισμοί έχουν αποθηκευτεί στο καθολικό τεκμηρίων, καθένας με τη δική του αξιολόγηση.
Αυτή η προβολή δεν επινοεί αξιολόγηση ισχυρισμού όταν το καθολικό δεν έχει κανέναν.
Σχετικές μέθοδοι
Δημιουργούνται από τον γράφο μεθόδων και εμφανίζονται ως προτεινόμενες από μηχανή σχέσεις — δεν υπονοείται ισχυρισμός τεκμηρίου.